广告合作联系QQ:1325426082  |    |  客服中心  |  网站导航

快速温度变化试验箱技术参数

点击图片查看原图
品 牌: 高天 
单 价: 面议 
起 订: 1 台 
供货总量: 100 台
发货期限: 自买家付款之日起 7 天内发货
所在地: 湖北 武汉市
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-04-27 10:03
浏览次数: 42
询价
公司基本资料信息






 
 
产品详细说明

快速温度变化试验箱技术参数

、温度波动度:±1℃

2、温度范围:高温箱:RT~150℃、低温箱:RT~-20℃

3、温度误差:±3℃

4、降温速率:从常温~-20℃≤15min;(全程平均)

5、升温速率:从常温~150℃≤25min;(全程平均)

6、预冷下限温度:≤-25℃;(过冷度≤-5℃)

7、冲击温度:150℃~-20℃

8、高低温冲击试验箱温度恢复时间:≤5min

9、样品提篮有效尺寸:320×320mm

10、电源:380V±38V 50Hz±1Hz

11、功率:7KW

12、负载:≤20kg

13、温度范围:-20℃~150℃ 、-40℃~150℃、-60℃~150℃、-70℃~150℃

14、样品架转换时间:≤15s
 

 快速温度变化试验箱技术参数

主要用途

  冷热冲击试验机能模拟高温与低温之间的瞬间变化环境。从而判断产品的可靠性及稳定性能等参数是否合格。将提供给您预测和改进产品的质量和可靠性依据。用于检测电子、汽车、橡胶、塑胶、航天科技、电子科技及高 通信器材等产品在反复冷热变化下的抵抗能力。

满足以下标准:

  GB/T10592-2008高低温试验箱技术条件

  GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验 2部分:试验方法试验A:低温

  GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验 2部分:试验方法试验B:高温

  GB/T5170.1-2008电工电子产品环境试验设备检验方法总则

  GJB150.3A-2009装备实验室环境试验方法 3部分:高温试验

  GJB150.4A-2009装备实验室环境试验方法 4部分:低温试验

  GJB150.5A-2009装备实验室环境试验方法 5部分:温度冲击试验

  GJB360B-2009电子及电气元件试验方法方法107温度冲击试验

 
更多..本企业其它产品

[ 供应搜索 ]  [ ]  [ 告诉好友 ]  [ 打印本文 ]  [ 关闭窗口 ]